預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱

預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱改設(shè)備是主要做沖擊試驗(yàn)的，就是個(gè)箱子里面有兩個(gè)區(qū)域，個(gè)給預(yù)冷個(gè)給預(yù)熱，等到測(cè)試得時(shí)間就把預(yù)冷好溫度或預(yù)熱區(qū)的溫度放出來(lái)，他的是功能高溫轉(zhuǎn)至低溫之間可以在很快時(shí)間內(nèi)沖擊完成試驗(yàn)。

預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱目適用的行業(yè)及產(chǎn)品有光電、LED、顯示器、顯示屏連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC，電感器，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，太陽(yáng)能組件，光伏組件，光纖，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，汽車燈產(chǎn)品及零部件等大型產(chǎn)品或者大型零部件。從很低到很高的溫度包括中間的任意溫度均可隨意設(shè)定恒溫或者沖擊試驗(yàn)。

預(yù)冷預(yù)熱沖擊試驗(yàn)箱本設(shè)備滿足：GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫；GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則；GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備。